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OSCILLATION-BASED TEST IN OVERSAMPLING A/D CONVERTERS. Comunicación en congreso. IEEE INTERNATIONAL MIXED-SIGNAL TESTING WORKSHOP (7.2001.LAKE LANIER ISLANDS, ATLANTA). LAKE LANIER ISLANDS, ATLANTA. 2001
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SELF-TESTABLE PIPELINED ADC WITH LOW HARDWARE OVERHEAD. Comunicación en congreso. IEEE VLSI TEST SIMPOSIUM (19.2001.MARINA DEL REY, CALIFORNIA). MARINA DEL REY, CALIFORNIA. 2001
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